静电基础知识（3）：
由静电荷所引起的问题有：
1：静电放电（Electrostatic Discharge (ESD)）：
当一表面上有静电荷时，它就有电位，若附近有另一不同的电位，产生电压差，而距离又合符放电条件时，其电荷就以放电方式，把两电位等同。在放电时所产生的放电电流是强大，通常在 Ampere 级，但放电时间十分短促，通常在 nanosecond 级或 GHz 级。
放电能量 ∝ (放电电流)2 ∝ (电压差 V1-V2 / 放电时间)2
潜伏性的静电放电 (ESD) 问题：
有些时候 ESD 的发生，并没有把物体完全破坏，而只把某部份的品质降低，这一现象便称为「潜伏性的 ESD 问题」。
请留意以下几点：
1. 「潜伏性的 ESD 问题」会累积起来而加深其严重性。
2. 「潜伏性的 ESD 问题」表面上看来只影晌了完成品的用家，但实际上亦影晌了各层次的制造商，如保用费、维修及公司的声誉等等。
3. 「潜伏性的ESD问题」无可否认是一个非常严重的问题，现今的科技仍未有办法透过某些的测试把已含有此类问题 - 已受损但应正常工作的元件 - 的物件找出来。
请注意，已完全受到破坏的元件，可以在工厂内透过各种测试可以轻易地把它找出来，但已存有「潜伏性的 ESD 问题」的元件，未必一定能透过高温或老化测试把它找出来。
根据美国 ESDA 协会，静电放电可分为 3 种模式：
1. 人体放电模式 (Human Body Model (HBM)) - 物体与人放电
2. 金属放电模式 (Machine Model (MM)) - 物体与金属放电
3. 带电器件放电模式 (Charged Device Model (CDM)) - 物体与带有静电荷的用具放电
这 3 种模式，都是根据物体与不同对象之间放电时，放电路径上的由 电阻 / 电容 / 电感 组成的 阻抗，对所产生的放电 能量 / 电流 / 脉冲，根据模式归纳，并系统化测试评定物体对静电的敏感度，是电子工业的重要指引。
2：静电吸附（ESA）：
当有静电荷在一表面时, 它的静电场会把附近异性的电荷微粒吸引到它的表面. 亦会把附近不带电的微粒极化, 从而引致其隐性带有异性电荷, 吸引到它的表面上. 其吸力与电场强度(亦即是表面上有多少电荷)成正比, 亦和与微粒的距离成平方反比. 微粒吸附在带静电荷的表面时, 其吸力是最大, 故极难在没有机械力的情形下清除. 这种静电吸附的问题，会令：
1. 产品表面吸附尘埃微粒而受污染；
2. 产品被静电吸附在包装口不能掉进包装；
3. 产品之间互相吸附成团而造成堵塞和阻碍流通；
4. 产品放下时受静电影响而位置错放。
吸附绑定力 ∝ (微粒的电荷)×(表面的电荷) / (距离)2
3：静电放电引起的电磁波干扰（ESD Induced EMI）：
由静电放电所产生的电流脉冲约在 1 - 10 ns 之间，即约 100 MHz 至 1GHz 的水平，会在空间产生一相应的电磁脉冲。这脉冲若与设备上的处理器或数据流的讯号频率相若，则可能会做成干扰，影响设备正常运作。
1. 混乱的程式指令
2. 混乱的资料
3. 不明之错误信息
4. 微处理器无故停止运作
5. 不真实存在之粒子
6. 校准失效
7. 软件错误的假象
